半導體曲線測試儀CS5100,cs3000,cs10000

更新時間：2017-10-28

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半導體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規(guī)格)功能

觀察I-V曲線以及電壓和電流的應用波形

電流和電壓脈沖在高電流模式下的應用



應用電流和電壓的脈沖寬度以及測量點額定可設定為50 - 400 μs之間（CS-3200和CS-3300）。

MOSFET“電流”和“電壓”特性測量示例

可選擇“掃描類別”(SWEEP TYPE)

“掃描類別”包括“下”(DOWN)、“上”(UP)和“定制”(CUSTOM)（所有模式）。
如“定制”模式，可以掃描值之間的范圍。

CS-800半導體參數(shù)搜索（可選）

該主控裝置軟件選項支持電壓和電流限制功能，以及自動Vth測量功能。

■限制掃描(LIMIT SWEEP)
如果在“掃描”操作前了電壓和電流限值，操作會在超過限值后的下一個測量點停止執(zhí)行。

	■Vth和hFE設置 Vth和hFE可以自動測量。
Vth自動測量示例。

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